Wewnętrzna niepewność czasowa przetworników analogowo-cyfrowych (ADC), zwykle określana jako niepewność momentu próbkowania (ang. aperture jitter), jest najczęściej podawana przez producentów jako pojedyncza wartość liczbowa reprezentująca całkowitą skuteczną wartość RMS. W zastosowaniach wąskopasmowych istotna jest jednak jedynie część szumu fazowego, która wpływa na akwizycje analizowanych danych. W niniejszej pracy przedstawiono kompleksowe eksperymentalne podejście  do charakteryzowania szumu fazowego niepewności momentu próbkowania w dziedzinie częstotliwości. Wykorzystany układ pomiarowy opiera się na dwóch identycznych kanałach ADC, wykonujących pomiary w schemacie próbkowania non-IQ, co pozwala na oddzielne zidentyfikowanie szumu fazowego skorelowanego i nieskorelowanego. Zbadano również wpływ szumu dodawanego przez stopień wejściowy i uwzględniono go w proponowanej procedurze pomiarowej. Metodologię zastosowano do scharakteryzowania komercyjnego przetwornika analogowo-cyfrowego. Zmierzono szum biały na poziomie −147,71 dBc/Hz oraz szum migotania na poziomie −113,81 dBc/Hz. Zmierzona wartość niestabilności czasowej wejścia, scałkowana w pełnym zakresie pasma Nyquista, jest zgodna z wartością RMS podaną przez producenta.