Ekscytony międzywarstwowe (IXs) w heterostrukturach van der Waalsa wykazują wyjątkowe właściwości optyczne dzięki przestrzennie rozdzielonym nośnikom ładunku. Jednak słaba siła oscylatora i poszerzenie radiacyjne IXs utrudniają ich wykrycie za pomocą konwencjonalnej spektroskopii absorpcyjnej. W niniejszym badaniu wykorzystujemy skaningową mikroskopię optyczną bliskiego pola typu rozpraszającego (s-SNOM) do bezpośredniego badania odpowiedzi dielektrycznej w skali nano. Najpierw weryfikujemy to podejście, mierząc ekscyton B w czterowarstwowej próbce MoS2, w której naświetlanie jonami spowodowało poszerzenie wywołane defektami. Rozszerzając tę metodę na heterostrukturę MoSe2/WSe2, obserwujemy rezonans Lorentza przy 1,35 eV, charakterystyczny dla ekscytonów międzywarstwowych, z poszerzeniem zdominowanym przez rozpad niepromienisty. Wyniki te pokazują zdolność s-SNOM do obrazowania i charakteryzowania słabych rezonansów ekscytonowych w nanoskali, pokonując ograniczenia konwencjonalnych technik i zapewniając nowy wgląd w lokalną dynamikę ekscytonów w heterostrukturach 2D.